株式会社ヨコオ（本社：東京都千代田区、社長：徳間孝之）は、このたび、2025年11月20日～22日の3日間、福岡県福岡市で開催される半導体ウエハーおよびダイレベルの測定にフォーカスした国際カンファレンス「SWTest Asia 2025」に出展し、技術論文発表を2つのテーマについて、ポスター掲示を1つのテーマについて行います。
 
■ 展示会概要
開催期間：　2025年11月20日(木)～11月22日（土）
開催場所：　ヒルトン福岡シーホーク（福岡県福岡市）
技術論文発表：
1. 11月21日(金) 11:30～12:00
「A Compact OTA Measurement System with a Lens-Equipped Anechoic Chamber for Antenna-in-Package Modules」
2. 11月21日(金) 14:30～15:00
「Opto-electronic probe card with single-mode fiber array for wafer-level PIC testing」
3. 11月20日（木）～21日（金）　（ポスター掲示）
「Evaluation of Palladium Alloy Probe with Suppressed Sn Diffusion Reaction」
 
■ SWTest Asia 2025について
SWTest（Semiconductor Wafer Test）はアメリカで30年以上の歴史を持つ、半導体ウエハーおよびダイレベルの測定にフォーカスした唯一の国際カンファレンスです。昨年に続き、今回「SWTest Asia 2025」が日本で開催されます。
 
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